«Использование параметрического рентгеновского излучения от нерелятивистских электронов для исследования поверхности наноструктур» (поддержан грантом РФФИ № 06-02-81016-Бел_а)
В традиционных методиках анализа наноструктур используется коллимированный пучок рентгеновского излучения. Параметрическое рентгеновское излучение (ПРИ) также может быть использовано для этой цели. Спектральный состав ПРИ определяется энергией начального электронного пучка, углом регистрации фотонов ПРИ и параметрами исследуемого объекта. Измеряя спектр ПРИ с хорошим разрешением для выбранной геометрии измерений, где возможно разделить линии ПРИ и рентгеновской флюоресценции, [...]
